仪器名称: 冷场场发射透射电子显微镜
| 仪器编号: 20235895 |
| 仪器型号: JEM-F200 |
| 购置日期: 2023-03-24 |
| 单价(万元): 749.17 |
| 厂家: 日本电子 |
| 技术指标: 1分辨率：TEM点分辨率≤0.23nm@200kV,线分辨率≤0.10nm@200kV，0.14nm@80kV STEM-HAADF像≤0.16nm@200kV，≤0.34nm@80kV；信息分辨率≤0.12nm@200kV2加速电压 80kV,200kV；3放大倍率TEM下20x-2.0Mx，STEM下200x-1.5Mx；4电子枪类型：高亮度冷场场发射电子枪；5聚光镜系统：四级聚光镜系统，可实现会聚角度和亮度的单独控制，6探测器类型：BF、DF、BEI. |
| 存放位置：364栋D101-1STEM实验室 |
| 保管单位：校级分析测试中心 |
| 管理负责人：华宇翔 |
| 共享: 预约仪器 |
| 预约须知: 非磁性样品（不含铁钴镍）、非含能材料，薄区样品厚度在100nm以下，测试前请至少提前一天制备好样品。HRSTEM对样品薄区及质量要求极高，操作时间较长，预约前电话咨询。 |
| 收费参考标准: |
| 主要功能: 用于材料的普通形貌观察、超高分辨形貌观察，及晶体的微区结构、成分分析等。 |
| 仪器设备开放时间: 详情请查看仪器预约表 |